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http://hdl.handle.net/11612/3934| Autor(a): | Mota, Thiago dos Santos |
| Orientador: | Araújo, Humberto Xavier de |
| Título: | Projeto de probe rf utilizando tecnologia planar |
| Palavras-chave: | Compatibilidade Eletromagnética;Antenas Planares;Metamateriais;Microeletrônica |
| Data do documento: | 2019 |
| Editor: | Universidade Federal do Tocantins |
| Citação: | Mota, Thiago dos Santos. Projeto de probe rf utilizando tecnologia planar. 48 f. Monografia (Graduação). Curso de Engenharia Elétrica. Universidade Federal do Tocantins. Palmas, 2019. |
| Resumo: | Com a evolução da tecnologia e seu domínio, surgem novas áreas e consequentemente novos problemas a serem resolvidos. Dessa forma, surgem normas das quais devem ser seguidas para que ocorra um funcionamento correto e seguro das áreas de atuação. A Compatibilidade Eletromagnética é a área de estudos que investiga a interação entre objetos em meio eletromagnético e os previne de interferir uns aos outros em seu funcionamento. Para a realização de alguns testes de compatibilidade eletromagnética é necessário o desenvolvimento de Probes projetados para atender determinadas tecnologias. A tecnologia planar apresenta boas características para o desenvolvimento de probes em determinadas frequências com o auxílio da tecnologia metamaterial. Neste trabalho foi desenvolvido uma solução de projeto de probe utilizando tecnologia planar para a aplicação de testes de compatibilidade eletromagnética de baixo custo, podendo fazer assim com que empresas de tecnologia façam testes preliminares economizando recursos de reparos em projeto |
| Abstract: | With the evolution of technology and its domain, new areas arise and consequently new problems to be solved. In this way, rules emerge that must be followed in order for a correct and safe operation of the operation areas to occur. Electromagnetic Compatibility is the area of study that investigates the interaction between objects in electromagnetic environment and prevents them from interfering with each other in their functioning. For the accomplishment of some tests of electromagnetic compatibility it is necessary the development of Probes designed to meet certain technologies. The planar technology presents good characteristics for the development of probes in certain frequencies with the aid of metamaterial technology. In this work, a probe design solution using planar technology was developed for the application of low cost electromagnetic compatibility tests, thus enabling technology companies to perform preliminary tests, saving project repair resources. |
| URI: | http://hdl.handle.net/11612/3934 |
| Aparece nas coleções: | Engenharia Elétrica |
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